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Personne-ressource
Jean-Marc Baribeau
Téléphone : 613-993-8249
Télécopieur : 613-941-4667
Courriel : Jean-Marc.Baribeau@nrc-cnrc.gc.ca
Microscope électronique à transmission par émission de champ JEOL-JEM-2100F
L’institut dispose d’un microscope électronique à transmission (TEM) par émission de champ JEOL-JEM-2100F muni d’un spectromètre à rayons X à dispersion énergétique – EDS (système Oxford INCA Energy TEM 200), d’un spectromètre électronique à perte d’énergie – EELS (Gatan GIF Tridiem) et d’un détecteur annulaire grand angle en champ sombre (Fischione). Le JEM-2100F produit un faisceau électronique à émission de champ à haute luminosité de type Schottky d’une taille inferieure à 0,2 nm. La résolution spatiale du système EDS est de 0,19 nm et une résolution de 0,136 nm peut être obtenue à dans le mode d’imagerie à balayage (STEM) en champ sombre annulaire grand angle.
Les installations conviennent idéalement pour les analyses cristallographiques et chimiques à une échelle subnanométrique, y compris par EDS et par EELS.
Le travail est axé principalement sur les études de TEM, de STEM, de EDS et de EELS de matériaux et de dispositifs semi-conducteurs. Les échantillons TEM peuvent être préparés en vue plane ou transversale par décapage ionique. Les techniques polissage mécanique de précision et de décapage par source d’ions focalisées sont disponibles pour préparer les échantillons ciblant des régions spécifiques. Nous encourageons les clients à préparer eux-mêmes leurs échantillons pour l’examen par microscopie électronique. Nos installations sont optimisées pour l’examen de semi-conducteurs et autres matériaux inorganiques. Nous ne travaillons normalement pas sur les matériaux organiques utilises dans les applications biologiques.
