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- Centre canadien de fabrication de dispositifs photoniques du CNRC
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- Initiative en génomique et en santé du CNRC
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Personne-ressource
Sylvain Charbonneau
Téléphone : 613-998-9414
Télécopieur : 613-957-8734
Courriel : Sylvain.Charbonneau@nrc-cnrc.gc.ca
Caractérisation et analyse de matériaux semi-conducteurs
Caractérisation
- MET/MEBT-JEOL 2100F avec Oxford EDS et un Gatan EELS
- prepration d'échantillons pour MET incluant :
- système de polissage ionique - Gatan 691
- gabarit de polissage de précision - Allied High Tech Products
- scie métallurgique de précision - Buehler
- VCR Group D500i Dimplers
- source d'ions focalisés avec microscope électronique à balayage - FEI 820
- micro-manipulateur - Mitutoyo
- système de polissage ionique à basse température - Fischione 1010
- MEB - à effet le champ - Hitachi 4700FE avec système de traitement d'images - Northern Eclipse et Image Pro
- spectromètre des ions secondaires - Physical Electronics Adept 1010
- microscope des electrons Auger - Physical Electronics 650
- microsope des electrons Auger - Ulvac-Phi 700
- spectromètre des photo-électrons avec resolution de 0.5 eV - Physical Electronics 5500
- microscope à force atomique avec mesures capacirtives - Veeco DI Nanoscope III
- microscope à force atomique - Veeco DI Enviroscope
- diffractomètre des poudres à rayons-x avec mesures de réflexibilite spéculaire et diffuse - Panalytical 1820
- diffractomètre rayons-x à haute résolution avec diffraction à incidence rasante et mesures à haute température - Bruker D8 Discover
- microscope à spectroscopie Raman avec spectroscopie par transformee de Fourier -Jobin-Yvon LabRam
- spectroscope Raman à haute résolution avec monochromateur à triple passage - Jobin-Yvon T64000
- système de mesure dynamique de l'électroluminescence - à haute resolution spatiale (0.5 mm) et temporelle (100 ps)
- spectromètre optiques :
- Perkin Elmer Lambda 19
○○ Perkin Elmer Lambda 900 (avec mesurs de réflectance)
○○ Perkin Elmer 983 IR (infra-rouge)
○○ Cary 50 (ultravilet-visible) - ellipsomètres spectroscopique - Woollam
- calorimétrie différentielle par balayage - TA Instrument 2050
- analyseur thermo-gravimétrique - TA Instruments 2010
- spectro-colorimètre avec mesure d'électroluminescence PR-650
- microscope à fluorescence - Nikon Eclipse 80I
- système dynamique de mesure d'angle de contact - FTA 200
